報(bào)告題目：超精密光學(xué)元件檢測(cè)技術(shù)

報(bào)告人姓名：于瀛潔

報(bào)告人簡(jiǎn)介：

于瀛潔，上海大學(xué)研究員、博士生導(dǎo)師?，F(xiàn)任上海大學(xué)機(jī)自學(xué)院院長(zhǎng)、中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)精密機(jī)械分會(huì)常務(wù)副主任委員兼總干事、中國(guó)計(jì)量測(cè)試學(xué)會(huì)計(jì)量?jī)x器專(zhuān)業(yè)委員會(huì)常務(wù)委員等。主要從事光學(xué)檢測(cè)和計(jì)算成像等方向研究，在超精密光學(xué)元件檢測(cè)方面具有長(zhǎng)期積累，承擔(dān)了國(guó)家自然科學(xué)基金面上項(xiàng)目、國(guó)家重大科技專(zhuān)項(xiàng)課題、國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃課題等研究工作。在國(guó)內(nèi)外學(xué)術(shù)期刊發(fā)表SCI/EI論文100余篇、獲授權(quán)發(fā)明專(zhuān)利30余項(xiàng)。聯(lián)系方式：[email protected] 

報(bào)告時(shí)間：2024年3月16日星期六上午10點(diǎn)

報(bào)告地點(diǎn)：自動(dòng)化學(xué)院學(xué)術(shù)報(bào)告廳